| 色谱质谱测量方法和装置。 |
| JP2004183440 2004-6-22 发明申请 |
| 2006-1-12 |
| 要解决的问题 : 以提供一种色谱质谱测量方法用于容易地设定在不降低SIM测量条件一个样品上进行测量时测量灵敏度含许多组分。溶液 : 用于每个所述成分的，规定的时间周期之前和之后其保持时间被设定时间范围内30-1to30-11，用于执行SIM上测量所构成。该时间范围在每个组件被独立地设定所述的时间范围的其它部件。这可以减少数量的组分同时测量，使其可能的，以防止从降低测量灵敏度。进一步，所述SIM的测量时间范围可以被容易地复位，即使如果该保持时间变化由于以柱的维护等的版权 : (C)2006，膜℃。 |
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