| 同位素标记和质量分析的系统和方法 |
| US11315844 2005-12-22 发明申请 |
| 2006-8-3 |
| 可以获得和分析质量强度值，同位素比和同位素之间的精确质量差，以确定是否存在一个或多个感兴趣的质量。 在一个实施例中，一种方法将在质量强度值中寻找感兴趣的峰。 代表同位素标记的质量强度值将与标准进行比较，以确定哪些质量是感兴趣的。 尽管本发明不限于此，但是这种标准的例子包括在特定阈值以上，在另一质量强度值的一定比率内的质量强度值，和/或质量块本身之间的间隔。 可选地，公差可以应用于标准。 如果发现感兴趣的质量块，当使用诸如LC-MS-MS，GC-MS-MS或MALDI-MS-MS系统的分析系统时，MS/MS |
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