| 色谱质量分析 |
| WOJP06304371 2006-3-7 发明申请 |
| 2007-9-13 |
| 一分光镜的质量相色谱仪，其中所述测量时间范围是适当地确定，任何一个的扫描测量，选择性离子监测(sim)测量，和扫描\/SIM同时测量可以被选择。当输入一个测量条件表的设定是进行，总离子色谱(51)通过进行扫描获得一种参考样品的测量和一制备的化合物表(52)是一个显示单元的一屏幕上显示。所述操作者选择要进行扫描\/SIM的化合物测量，标记的一个中检查一个校验盒在该化合物表(52)，并点击一个“自动创建”按钮(54)。一个测量时间之前与一预定时间宽度的范围和所选择的所述的保持时间后化合物被确定。所述范围内，一 |
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