| 基于扫描电子显微镜对粉末颗粒内部孔洞进行分析的方法 |
| CN202310706357.0 2023-6-15 发明申请 |
| 2023-7-14 |
| 本发明提出了一种基于扫描电子显微镜对粉末颗粒内部孔洞进行分析的方法，属于粉末颗粒图像处理技术领域，包括：制备粉末颗粒的测试样品；获取大视域高分辨率的SEM图像；对大视域高分辨率的SEM图像进行图像处理；通过图像分析计算孔洞率并将孔洞分类，提高了扫描电子显微镜对粉末颗粒内部孔洞进行分析的准确性和多样性，将离散孔洞特性转化为组构特性在平面上的可测参量，其物理意义清晰。 |
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