| 一种共聚焦荧光显微镜的质量评价和校准方法 |
| CN202211604831.0 2022-12-14 发明申请 |
| 2023-6-23 |
| 本发明公开了一种共聚焦荧光显微镜的质量评价和校准方法，使用共聚焦荧光显微镜对荧光微球测试片进行拍摄后进行筛选，对筛选出来的荧光微球使用最小二乘法进行拟合，得到系统的点扩散函数，通过测量系统点扩散函数的半峰全宽值用来评价共聚焦荧光显微镜系统的质量，并根据得到的系统点扩散函数形状对共聚焦荧光显微镜进行校准，优点是，在低照度条件下仍能得到一个较为准确可靠结果，能对共聚焦荧光显微镜的质量评价起到很好的作用，通过点扩散函数的形状对共聚焦荧光显微镜进行正确校准，有助于后续对高分辨率共焦样品图像的获取。 |
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