| 提高荧光显微镜轴向分辨率的方法 |
| ARP200101874 2020-7-2 发明申请 |
| 2023-6-21 |
| 一种通过在超临界照明条件下测量单个颗粒的强度来提高荧光显微镜轴向分辨率的方法。 该方法易于在荧光显微镜中实施，并且可用于确定荧光分子到经受激发的两种不同折射率介质之间的界面的距离。 权利要求1：一种用于通过定位光致发光颗粒，特别是荧光分子来提高荧光显微镜的轴向分辨率的方法，其中所述显微镜包括至少一个荧光检测器、具有第一折射率的第一介质、具有第二折射率的第二介质，其中所述第一介质的折射率大于所述第二介质的折射率、将所述第一和第二介质分开的界面，其中所述第二介质包含光致发光颗粒，该方法的特征在于以下步骤：选择所述第二介质中的光致发光颗粒， 在超临界照射条件下使光束从第一介质落在界面上，从而产生光束的全内反射，产生穿透第二介质的倏逝光场，通过所述倏逝光场激发位置z 0处的光致发光颗粒，使用荧光检测器测量轴向位置z 0处的光致发光颗粒的荧光强度， 以及从对其荧光强度的测量获得第二介质中的其它光致发光颗粒的轴向位置z的值，以及在轴向位置z处的光致发光颗粒的荧光强度0测得。 |
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