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冷冻电镜样品的鉴定方法及相应的样品架

EP19175196 2019-5-17 发明授权

2023-3-8

用于通过冷冻电子显微镜检查的样品的鉴定过程。将样品(12)施加到提供用于冷冻电子显微镜的样品载体(10)上，并且随后通过动态光散射检查布置在样品载体上的样品(12)。通过动态光散射测定样品(12)内的粒度分布。进一步地，设计用于执行鉴定过程的样品架。