| 扫描探针显微镜和用于该显微镜的样本 |
| WOJP22026580 2022-7-4 发明申请 |
| 2023-2-23 |
| 提供了一种扫描探针显微镜，其中用于激发光的辐射和拉曼散射光的收集的物镜可以配置在更靠近样本和探针的位置。 所述扫描探针显微镜具备：保持检体的检体支架、与所述检体接近配置的探针、射出激发光的激发光源、将所述激发光聚光并照射到所述探针上的物镜、以及检测因所述激发光的照射而从所述检体产生的散射光的受光部， 所述扫描探针显微镜的特征在于，还设置有入射位置调节单元，用于使所述激励光入射到偏离所述物镜的光轴的位置。 |
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