| 一个或多个相色谱仪系统1的一个特定的值的测量方法参数 |
| JP2009117953 2009-5-14 发明授权 |
| 2011-6-1 |
| 一级色谱系统进行操作，与标准样品的几种温度下产生一次保留时间，装配到功能以确定热力学常数涉及次数的温度。目标色谱系统进行操作，与标准样品以产生二次滞留时间。利用这些功能次数，以确定和用于目标系统的有效柱参数。功能然后，使用与该参数和初级次以确定压力程序。进一步的操作的目标系统与应用样品与压力程序的标准化保持时间的效果。特定搜索技术利用的功能。与选定的样品温度校准技术措施柱用于目标系统的温度，和验证目标系统上完成的。<图像> |
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