| 分析装置控制系统及其程序 |
| US13552457 2012-7-18 发明申请 |
| 2014-1-23 |
| 本发明的目的在于提供一种分析装置控制系统，该分析装置控制系统能够在连接到色谱仪的分析装置中适当地设置测量条件，其中基于参考色谱图执行一个以上的测量事件。 该系统包括测量时间范围设置部分，用于当峰不与另一峰重叠时，或者当峰与另一峰重叠时，对于包括在对应于待检查样品的先前提供的参考色谱图中的所有峰或先前选择的一个或多个峰中的每一个，将峰的宽度设置为峰的测量时间范围，或者将峰的总宽度和重叠峰设置为峰的测量时间范围。 |
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