| 离子阱/和时间飞行质谱仪的离子的精度质量的测量方法 |
| JP2004144286 2004-5-14 发明授权 |
| 2009-7-22 |
| 离子阱/飞行质谱仪的时间，可进行准确的质量测量的产物离子的基于LC-MS/MS，MS↑[][n]具有一种离子源电离样品，能够暂时离子阱捕集离子，和-飞行时间质谱仪。离子源产生的离子的样品作为测量目标，一参考样品离子的每个具有已知的质量值。前体离子选自离子间的测量目标的样品，和所选择的前体离子激发和中片段化的离子阱，以产生产物离子。参考样品离子引入而捕获的离子阱。被困产物离子和参考样品离子的离子阱排出和引入到飞行中的时间质谱仪，从而获得质谱。 |
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