用于隐形眼镜涂层选择和制造的环境扫描电子显微镜分析
 
US16695986  2019-11-26  发明授权

2022-12-6
 
  使用高分辨率环境扫描电子显微镜来捕获隐形眼镜涂层的图像,使得能够精确表征涂层厚度和涂层结构的测量。 涂层可以直接可视化和定量测量。 此外,可以在环境扫描电子显微镜中建立变化温度和变化水平的相对湿度的受控环境,使得可以成像和测量涂层在这样的条件下的动态变化。 受控环境可以被设置为模拟制造工艺条件,或者被设置为模拟眼睛上的透镜条件。
 
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