| 用于确定荧光显微镜中的照度的控制系统和方法以及相应的显微镜系统 |
| EP21175391 2021-5-21 发明申请 |
| 2022-11-23 |
| 本发明， 本质上， 涉及一种用于自动确定照度(Pk，)的控制系统(150)， 荧光显微镜(100)的光源(120K)， 光源(120K)用于激发样品(110)中的荧光团(130)， 并且被配置为改变照明强度(Pk，)， 显微镜(100)具有用于检测样品(110)的图像强度(B)的检测器(140)， 控制系统(150)被配置为： 自动确定(304)， 在光路(164)中改变(302)之后， 168)用于照度(Pk，)的控制值 所述至少一个光源(120K)中，为了获得表征样品检验的检验参数(b)的预期值， 其中确定(304)照明强度(Pk，)的控制值 所述至少一个光源(120K)中的一个基于照明强度(Pk，)的值。 这设置在光路(164)的改变(302)之前， 168)， 在光路变化(302)之前使用的检查参数(b)的值上， 以及在光路(164)的物理模型(M)上， 168)，该物理模型考虑光路(164, 168)中光学部件(124, 132，160m，160m+1)的成像特性，将至少一个光源(120k)的照明强度(Pk，)映射到检查参数(B)，并映射到显微镜系统和相应的方法。 |
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