| 用于获得用于检查荧光样品的照明参数的操作值的方法，用于检查荧光样品的方法，显微镜系统和计算机程序 |
| EP21175448 2021-5-21 发明申请 |
| 2022-11-23 |
| 提出了一种用于在荧光显微镜(100)中获得用于检查包含目标荧光团J的荧光样品(300)的照明参数PK的操作值的方法(1)， 所述方法(1)包括在多个迭代步骤N中将所述照明参数Pk调整到不同的设定值， 其中在每个所述迭代步骤N中，为照明参数Pk的设定值确定表示所述目标荧光团j的漂白行为的漂白行为描述符kj和表示所述目标荧光团j的荧光响应的荧光响应描述符ij， 并且其中，对于所述迭代步骤N中的至少一些，所述调节所述照明参数Pk的所述设定值是基于在所述迭代步骤N中的先前一个中确定的所述漂白行为描述符kj和所述荧光响应描述符ij来执行的。 在荧光显微镜(100)中检查荧光样品(300)的方法和包括荧光显微镜(100)的显微镜系统(1000)也是本发明的一部分。 |
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