| 用于光学显微镜和扫描电子显微镜中的磨损测试和分析的6mm球的支架 |
| BR102014028090 2014-11-10 发明授权 |
| 2022-5-3 |
| 用于光学显微镜和扫描电子显微镜中的磨损测试和分析的6mm球形支架本发明专利申请旨在提供一种由不锈钢AISI304构成的支架组， 或支持该组件努力的其它材料，以适用于可逆线性核子仪，支持在可逆线性或球-盘磨损试验中使用的6mm球体。 当整套支撑件与摩擦试验用的摩擦计连接时，将球体垂直于磨损试验表面定位，使其保持在该位置，直到试验完成。 为了在摩擦计中使用，支架组件将其壳体移除，将6mm的球插入到其支撑件中，并且通过将球固定到组件而将壳体拧入到支架中。 然后将整套支架固定在摩擦计上，以进行磨损试验。 在摩擦计上的测试结束时，从摩擦计上取下整套支撑件，并将其杆解耦，使得由壳体支撑在其支撑件中的固定球可以被传送到光学显微镜和扫描电子设备。 |
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