使用荧光显微镜的时间相关性的单光子计数方法
 
JP2020543639  2018-12-18  发明申请

2021-6-3
 
  本发明, 荧光显微单光子计数方法涉及相关时间, 这里, 样品(13)是, 脉冲光源(2),用于发射由周期性地使用荧光光子激发的激发光脉冲; 这里, 在预定的时间间隔之间相继测量两个激发光脉冲2, (16)使用荧光光子在检测器中检测, (17)为了产生指示所检测的荧光光子的检测器信号,由检测器检测测量间隔中的荧光光子(16)的检测器信号(17)ON,以确定检测时间,基于检测时间执行成像。 技术劳动量较小, 光和检测器以及电子设备,在避免增加通常使用的类型的强度的堆叠效应的同时,确定在显微镜中的荧光寿命,每个测量间隔,预定数量的荧光光子在测量间隔中是否被检测到。 所有检测到的光子检测时间,第二多个像素1的公共数据存储器被集中。 在每个测量间隔中,与公共数据存储器的第一多个像素2类似,仅集成预定数量的检测到的荧光光子检测时间。 第二数据存储器密集检测时间为1,第二数据存储器在与检测时间相结合的计算步骤2中被集成。 计算步骤的结果,将第二数据存储在存储器3中。 另外,本发明中的荧光显微镜在这样的显微镜中。
 
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