| 扫描光学系统，扫描显微镜和扫描型共焦显微镜 |
| JP2020539184 2018-8-27 发明申请 |
| 2021-8-26 |
| (SL)是扫描光学系统， 第1透镜组(G1)和第1透镜组具有负的光焦度， 第一透镜组具有正屈折力(G2)及2， 第一透镜组3(G3)具有负屈折力， 第一透镜组(G1)1， 2(G2)第一透镜组， 至少两个透镜的透镜组3(G3)可以包括在第一和第二透镜1中， 具有满足以下条件式的正折射能力， 和d1]80第一透镜组(G1)1， 2(G2)第一透镜组，透镜组3(G3)中的至少两个透镜可以包括在第一和第二透镜1中，具有负折射能力满足以下条件表达式，Nd2[50]满足以下条件表达式。 HMA x大于等于18.0mm： 然而， HMA X： 主光束通过后焦物镜， 离主光束的光轴的最大距离定义了最大图像高度Nd1 : 具有阿贝数的正折射透镜是基准线D， d线的折射率nd[1]， f[nf1]和折射率线， 当折射率为CnC1时， 由式(Nd1-a1)/(Nf1-nC1)vd1=nd2 : 透镜的负屈光力是作为基准的阿贝数d线，d线nd2，fnf2和折射率线的折射率，当cnc2的折射率由公式(nd2e1)/(nf2-nc2)vd2=定义时 |
微信公众号