| 双模式修复显微镜 |
| WOEP21053904 2021-2-17 发明申请 |
| 2021-8-26 |
| 一种显微镜系统(100)，其被配置为以至少第一和第二成像模式(501)记录图像， 502)， 包括： 物镜(1)，从样品(11)收集光(201)； 耦合到物镜的照明模块， 产生样品的中间图像的第一再成像物镜(5)和将中间图像中继到检测模块上的第二再成像物镜(6)， 评估模块(200)，包括机器学习方法(DL)， 用同一样本的第一和第二组图像训练， 其中第一组和第二组已经在第一成像模式(501)和第二成像模式(502)中被获取， 分别地，其中在第二成像模式(502)中获取图像(400)时，训练的机器学习方法(DL)输出恢复图像(401)，该恢复图像(401)包括比在第二成像模式(52，53，57)中获取的图像更少的像差。 |
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