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复合材料扫描探针显微镜
US16532463 2019-8-5 发明授权
2022-10-11
扫描探针显微镜(SPM)系统,其被配置为使用采用非金属基体和金刚石颗粒中的至少一种的复合材料, 熔融二氧化硅颗粒, 碳化硼颗粒, 碳化硅颗粒, 氧化铝颗粒, 碳纤维元件,碳纳米管元件和掺杂的金刚石颗粒,以增加SPM系统的结构完整性和/或强度,以及至少25%至至少75%的增强分数,同时有利地改变杨氏模量,热膨胀系数和热导率。
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