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用于样品的高分辨率检查的方法和光显微镜
DE102021107704 2021-3-26 发明申请
2022-9-29
本说明书涉及一种特别是借助于激光扫描或微通量显微术对样品(6)进行光显微镜检查的方法,其中检测样品(6)或样品(6)中的对象相对于光显微镜(26)的漂移,并且如果需要的话校正该漂移。 特别地,本说明书涉及用于使用激光扫描或微通量显微术检查样品(6)的相应方法。 为此,参考标记(8、13)位于样品中,其位置根据微通量原理重复确定,以便确定漂移。
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