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用于扫描探针显微镜的探针和包括该探针的二元状态扫描探针显微镜

US17703791 2022-3-24 发明申请

2022-9-29

一种扫描探针显微镜，特别是，一种扫描探针显微镜，能够使用包括多个导电尖端的探针进行大面积扫描，并且能够通过仅识别导电尖端与探针的表面之间的接触/非接触的两个二元状态而简单地产生具有高分辨率的样品的表面图像。所述样品。