| 频谱分析仪及色谱仪 |
| JP2016165493 2016-8-26 发明申请 |
| 2018-3-1 |
| [问题]本发明具有较高的线性度与光谱分析仪。[解决方法]所测得的光谱衍射光栅(40)，其各波长的光的强度进行检测的衍射光栅分光光度计，装备有40光电二极管阵列检测器(24)，衍射光栅(40)，一种衍射光栅的表面上形成光电二极管阵列检测器24，用于引导所述光的各波长和至少占据的有效面积40，40B，其四周区域，至少一部分所述B的外围区域40反射的光被引导到光电二极管检测器(24)防止机构(50)设置。图[图2] |
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