| 一种用于样品双折射定量的显微镜系统 |
| KR1020210007753 2021-1-20 发明申请 |
| 2022-7-27 |
| 根据本发明的一个实施例的用于量化样品的光学各向异性的显微镜系统包括：显微镜系统，其提供关于样品的光学各向异性的定量信息，其中发射光的光源； 偏振调制器，调制从光源部分发射的光的偏振形式； 偏振获取单元，其中由偏振调制部分调制的光被照射到样品中，并且样品中的反射或透射光根据偏振方向被分割以进行检测； 以及图像生成单元，其通过由偏振获取单元检测的光使关于样品的光学各向异性的定量信息可视化。 |
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