| 用于多个样品的光片荧光显微镜 |
| EP21150718 2021-1-8 发明申请 |
| 2022-7-13 |
| 本发明涉及一种装置(100)，其构造成用于检查样品载体(200)中或其上的样品区域(130)内的多个样品(214)， 该装置(100)包括在透射光成像模式和光片成像模式下选择性地对样品区域(130)成像的光学器件(110)， 透射光成像模式产生和处理样品区(130)的一叠宽场图像， 以及光片成像模式，其在光片成像位置处获得样品(214)中的至少一个的光片图像，并处理所述光片图像， 以及该装置(100)还包括处理设备(150)，该处理设备被配置为执行以下操作： 在样品区(130)中， 步骤a)提供(1010)操作指令(152)，使装置(100)在透射光成像模式下操作， b)基于基于在透射光成像模式中生成的宽场图像的堆叠而获得的选择信息，选择(1020)样本区域(130)中的一个或多个感兴趣区域， c)提供(1030)与在样本区域(130)中选择的一个或多个感兴趣区域相关的位置信息， 以及d)提供(1040)操作指令(152)，使得装置(100)基于位置信息在一个或多个光片成像位置处以光片成像模式操作。 |
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