| 用高光谱成像(VIS-NIR)锚定的暗场显微镜检测植物基质中TiO2，ZnO和Ag纳米颗粒的方法 |
| RO202000821 2020-12-10 发明申请 |
| 2022-6-30 |
| 本发明涉及通过在可见和近红外范围内相对于NIR的高光谱图像锚定的暗场显微镜检测各种植物基质中的TiO2，ZnO和Ag纳米颗粒的方法。 根据本发明， 检测过程包括将植物基质的一段微米尺寸放置在显微镜载玻片上，在暗场中观察样品， 在焦场各点记录400～1000nm范围内的散射光光谱，根据光谱特征在每类TiO2，ZnO，Ag纳米粒子的高光谱图像中进行识别。 |
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