| 用于提高测量精度的测距系统 |
| CN202211345415.3 2021-9-15 发明申请 |
| 2022-12-30 |
| 本发明提供了一种用于提高测量精度的测距系统，包括：绝对测距模块和相对测距模块，绝对测距模块包括用于产生第一光束的第一发射单元、用于反射第一光束并形成第一反射光束的第一反射单元、用于对第一光束和第一反射光束进行分束的第一分光单元、以及具有光学开关并用于控制第一光束的路径的开关单元，当光学开关位于第一位置，第一光束经由开关单元到达第一反射单元，第一反射光束经由开关单元到达第一分光单元，当光学开关位于第二位置，第一光束经由开关单元到达辅助测量装置，并形成第二反射光束，第二反射光束经由开关单元到达第一分光单元；相对测距模块产生第二光束，第二光束到达辅助测量装置并形成第三反射光束。 |
微信公众号