| 差分校准 |
| JP2009507149 2007-4-24 发明申请 |
| 2009-9-24 |
| 一种校准的方法测量探针(10)安装在试验机描述。所述测量探针(10)具有触针(14)与工件接触尖端(16)。该方法包括确定探头校准矩阵是涉及一种探头输出(A，B，C)到机器坐标系统(X，Y，Z。)。该方法包括如下步骤 : 扫描校准人工产物(18)使用第一探头偏转(d1)得到第一机数据和使用第二探头偏转(d2)得到第二机器数据。第一和第二机数据用于以获得纯探头校准矩阵，其中，任何机器误差基本上消除了。有利的是，该方法确定基于所述纯探头矩阵数控假设第一和第二之间的差值机器位置数据是已知的。 |
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