用于测量测量对象的测量策略的生成
 
US17236624  2021-4-21  发明申请

2021-11-11
 
  一种用于确定改变的测量策略的方法,所述改变的测量策略用于使用坐标测量机测量测量对象,所述方法包括根据初始测量策略测量所述测量对象。 所述方法包括确定所述测量的测量质量。 该方法包括:响应于测量质量大于预定目标最小测量质量,改变初始测量策略以产生改变的测量策略。 执行该改变使得根据改变的测量策略测量测量对象所需的时间中的至少一个被减少, 减少了根据改变的测量策略测量测量对象所需的计算开销,并且减少了根据改变的测量策略测量测量对象所需的数据存储容量。
 
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