提取的极化强度差的散射用于颗粒的表征
 
WOUS04001338  2004-1-16  发明申请

2004-8-12
 
  一个PID类型粒子的浆料所述的方法和装置使用随机偏振光辐射来照射一个颗粒样本。所得到的侧散射图案的部分被分解,以同时产生,用于各分解部分,第一和第二线性偏振光束的辐射在其中所述各自的所述两个光束的偏振的平面相互垂直。每个所述偏振的光束被聚焦到光检测器,和所述各光检测器输出是微分以提供PID信号,其计算中是有用的颗粒尺寸分布用于所述样品。
 
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