| 具有扫描绝对距离计的测量仪器 |
| EP22193540 2022-9-1 发明申请 |
| 2024-3-6 |
| 本发明涉及一种用于协调测量物体的物体表面点的测量仪器，该测量仪器被构造为坐标测量机(CMM)或铰接臂的测量头，或被构造为具有诸如激光跟踪仪的测量站的测量系统的手持式测量探头，或被构造为具有IMU的6自由度手持式测量仪器。 所述测量仪器包括具有光源的扫描绝对测距仪、用于将来自光源的光作为测量光束沿着瞄准轴线朝向对象发射的传输通道、用于瞄准轴线的扫描偏转的光束偏转单元、用于接收从对象表面反射的测量光束的至少一部分的接收通道， 光电检测器，用于检测所接收的测量束并输出相应的检测信号，以及评估单元，用于基于实际瞄准轴线和从检测器的检测信号导出的绝对距离来确定表面点的坐标。 |
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