| 模拟探针的校准 |
| GB0126232 2001-11-1 发明申请 |
| 2002-1-2 |
| 一种校准模拟探针(10)的方法，所述模拟探针具有带有工件接触尖端(14)的触针(12)或非接触探针(26)。 诸如校准球(16)的校准制品安装在坐标测量机(CMM)(18)上。 探针(10，26)安装在CMM的臂(8)上，并且探针沿着路径移动，同时连续地扫描校准制品的表面，使得探针在其整个工作范围内发挥作用。 对于具有工件接触触针(12)的模拟探针(10)，该路径使得触针的偏转沿着该路径变化。 对于非接触探头(26)，该路径使得在该路径和校准假象之间存在径向距离的变化。 探针路径可以包括平行于校准球的弦的路径或弯曲的路径，例如正弦路径。 |
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