| 探针的校准 |
| US10493143 2004-4-20 发明申请 |
| 2004-12-9 |
| 一种校准具有触针(12)的模拟探针(10)的方法，该触针具有与工件接触的尖端(14)或非接触探针(26)。 在坐标测量机(CMM)(18)上安装诸如校准球体(16)的校准人工制品(10)。 探头(10，26)安装在CMM的臂(8)上，并且探头沿着路径移动，同时连续地扫描校准人工制品的表面，使得探头在其整个工作范围内被操作。 对于具有接触工件的触针(12)的模拟探针(10)， 所述路径使得触控笔的偏转沿着用于非接触式探针(26)的路径变化。所述路径使得所述路径与所述校准人工制品之间的径向距离发生变化。 探针路径可以包括平行于校准球的弦的路径或弯曲的，例如正弦的路径。 |
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