| 一种探针的校准 |
| WOGB02004936 2002-11-1 发明申请 |
| 2003-5-8 |
| 一模拟校准的方法探针(10)具有一触控笔(12)与一工件-接触尖端(14)或一种非接触探头(26)。一个校准制品，例如一个校准球体(16)被安装在一个坐标测量机(CMM)(18)。所述探头(10，26)被安装在一个臂(8)的所述CMM和所述探针是移动沿一个所述校准制品的路径，同时连续地扫描该表面，使得所述探针是作用在其整个工作范围。用于模拟探针(10)具有一工件-接触触针(12)，该路径是使得所述偏转的所述触控笔沿该路径变化。用于非接触探头(26)所述路径是这样的，即之间存在是所述径向距离的变化所述路径和所述校准人工产物。所述探针路径可以包括一个路径平行于所述校准球体或一弯曲的一弦，E。G。一正弦，路径。 |
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