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用于测量机的校准过程

DE60207325 2002-3-1 发明授权

2005-12-22

一参考装置具有一球位于测量空间内通过一个对象三-维测量机具有一球形探针接触所述球形探针与六个或多个测量点所述球面的表面上均匀地分布所述球到该参考装置测量所述的球中心的坐标由该对象三-维测定机及校准所述对象三-维基于所述中心坐标测量机获得的。