| 光学显微镜和包括光子计数检测器元件的成像方法 |
| JP2021540157 2019-1-25 发明申请 |
| 2022-6-1 |
| 一种光学显微镜，具有用于照亮样品的光源， 一种光子计数检测器阵列，具有用于测量来自样品的检测光的多个光子计数检测器元件，其中光子计数检测器元件被配置为输出相应的测量光子计数率，以及一种用于控制光子计数检测器阵列的控制装置。 所述控制装置被配置为单独影响可测量的光子计数率，所述可测量的光子计数率可以用不同的光子计数检测器元件同时测量和/或可以用相同的光子计数检测器元件连续测量。 此外，在成像方法中，单独影响光子计数检测器元件的可测量光子计数率，以提高光子计数检测器阵列的信噪比。 |
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