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产业专利数据

用于密度辐射检测器或电平测量

AU2013311415 2013-9-5 发明申请

2015-3-19

核子密度轮廓仪包括检测探头，检测电离辐射，包括辐射检测器阵列和电路板，包括至少两个电路板部分。