| 一种用于原子力显微镜材料表征的微顶推装置及其使用方法 |
| CN202210183720.0 2022-2-28 发明申请 |
| 2022-5-13 |
| 一种用于原子力显微镜材料表征的微顶推装置及其使用方法，顶推装置和AFM替换底座，顶推装置设置在AFM替换底座上。该顶推装置包括AFM替换底座、螺杆、六角锁紧螺母、上部装配式卡扣、下部装配式壁筒、限位及加载模块、螺杆式机械顶推装置、实验样品、探针、AFM悬臂、限位钢片、限位孔位。螺杆式机械顶推装置顶端与卡扣嵌套连接。螺杆式机械顶推装置放置在在AFM扫描管上方，AFM替换底座起到增高坐垫的作用。本发明用于与AFM联用获取材料的表面形貌信息、动力学响应、粘附力、动态模量、耗散值等数据。本发明通过螺杆式机械顶推装置可以精确控制实验样品的向上位移和速度，同时采用限位片较为精确地控制实验样品向上的最大位移。 |
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