过程来校准一个坐标测量机与两个旋转轴线
 
EP95114032  1995-9-7  发明申请

1996-3-27
 
  所述校准系统允许所述主测量由扫描方向的轮廓中的校准(52a,53aB)或几何元件的一个校准元件通过所述手-引导所述测量装置的传感器头,获得与所述的比较测量值与所述已知测量所述扫描的轮廓或几何元件。Pref。每个几何元件具有一圆形或矩形的内部轮廓和一圆形或矩形的外部轮廓,选择使使所述DIA。所述测量球的所述传感器(12)在所述的自由端具有一不同的加权用于每个得到的测量。
 
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