| 厚度分布表用于薄膜层下的项测试 |
| DE112005002513 2005-7-26 发明申请 |
| 2007-7-12 |
| 本发明涉及一种装置用于测量待测对象的所述薄膜层的厚度，特别是箔或膜。所述装置包括一个传感器，一个部分或多部分的空气供应和一空气屏蔽具有或没有用于该传感器开口。所述所述空气供给所述的空气的射流的方向设置在所述边缘区的所述空气屏蔽被定向在一个基本上切向方向，以该顺序中所述待测物体的表面到实现一种基本上层流。所述空气屏蔽的那些边缘区域，其被相对所述空气供应被打开和\/或提供与空气吸入呼吸器。 |
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