改进的粒子尺寸分析仪
 
JP2012516816  2010-6-24  发明申请

2012-12-6
 
  本发明是一种装置用于测量所述所述的光的散射强度由一薄的膜一胶体介质,包括一单色光源,一会聚光学系统聚焦所述源到该薄的膜要分析包括一折射光学元件与一个所述其构成一个第一壁面限定的所述薄的膜,在至少一个感光检测器产生一个信号表示光散射或通过所述薄膜和反向散射的装置,用于处理该信号。一该装置具有一平面表面第二的壁在所述一个杆的一端。
 
仿站