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改进型粒度分析仪
US13379715 2010-6-24 发明申请
2012-10-4
本发明是一种用于测量由胶体介质的薄膜散射的光的强度的装置,包括单色光源、将光源聚焦到待分析薄膜上的会聚光学系统,所述会聚光学系统包括屈光元件、至少一个光敏检测器和用于处理信号的装置,所述屈光元件的一个面构成限定薄膜的第一壁,所述至少一个光敏检测器产生表示由薄膜散射或反向散射的光的信号。 所述装置的第二壁在杆的端部具有平面表面。
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