| 改进的粒子尺寸分析仪 |
| WOFR10000470 2010-6-24 发明申请 |
| 2010-12-29 |
| 本发明涉及一种装置用于测量所述的光的散射强度由一薄的膜胶体介质，包括 : 一种单色光源; 一会聚光学系统聚焦待分析的所述光源到所述薄膜和包括一种折光元件(7)，一个所述构成一个第一的壁面限定的所述薄膜; 在反应中的至少一个感光检测器到所述光散射或通过所反向散射薄膜; 和来自所述信号处理装置，用于从所述光电检测器。根据所述的装置，所述其他，第二壁是由一平面表面(3)上形成的所述端一杆(2)。 |
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