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基于激光衍射法的粒度分析仪
US10078449 2002-2-21 发明授权
2002-10-29
一种基于激光衍射方法的粒度分析仪,包括 : 照射光学系统,用于将激光束照射到颗粒上; 一种测量光学系统,用于通过接收由来自照射光学系统的激光束的粒子衍射/散射的光来测量空间强度分布;以及一个操作部分,用于从由测量光学系统测量的结果中获得粒子的粒度分布。 所述照射光学系统具有输出光束波长为300-500nm的半导体激光器作为光源。 因此,可以测量具有亚微米量级的直径的颗粒。
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