| 材料试验机 |
| JP62272827 1987-10-28 发明申请 |
| 1989-5-8 |
| 目的 : 以提高所述的可操作性通过制备多个半导体模块对应于每个专用程序，和它们连接到一个微处理器，和一个测试机的控制每个部分由选择专用程序。结构 : 与相对于一微处理器(CPU)1，多个半导体存储器模块8在其对应的专用程序，以存储各种测试方法制备。还，以所述CPU1，一个ROM2在其一个系统程序和一基本程序存储被连接，并通过一个程序选择键10，一基本程序的所述的系统和一内部该系统被切换的外部的专用程序。在这种状态下，必要的模块8被选择和连接到所述CPU1，和通过切换所述键10，一种测试机的是控制每个部分，基于所述专用程序。因此，所述的可操作性是令人满意的，并且还，可以执行高速访问，和高可靠性可以被获得的。 |
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