| 材料试验机 |
| JP01224925 1989-8-31 发明申请 |
| 1991-4-12 |
| 目的 : 以精确地测量所述所述的负载-位移特性的平均值一在所述相同的测试件生产单元通过导出一加载值对应到一规定的位移值与一个内插操作，基于所述位移和负载数据依次存储。构造 : 当它被启动以施加一负载到一个测试件，其负载是通过检测一个负载单元11，和还，所述的位移引起的测试件通过所述负载是通过一个extensiometer检测12。所述检测的负荷和位移的信号被A\/D转换13，14，和此后，一规定时间中的采样间隔由CPU15，和一个存储器16中存储在所述的顺序采样。随后，例如，当所述位移采样在一规定的时间间隔超过一在预先确定的值，所述位移采样在该随后的采样时间和负载数据被存储。在这种方式，基于所述位移和所述负载数据依次存储，一个负载值对应于一规定的位移值导出的是由一个内插操作。因此，所述平均负载-位移特性的值在每批可以被准确地测量。 |
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