晶圆表面标记制作方法及扫描电镜内晶圆的定位方法
 
CN202111519871.0  2021-12-13  发明申请

2022-3-29
 
  晶圆表面标记制作方法及扫描电镜内晶圆的定位方法,属于半导体技术领域,晶圆表面标记制作方法,包括涂胶工艺、曝光工艺和显影工艺,所述涂胶工艺为在晶圆表面涂布膜层,所述曝光工艺为通过光刻机对晶圆进行曝光,所述显影工艺为将晶圆浸入显影液中。扫描电镜内晶圆的定位方法,包括晶圆表面标记制作方法和扫描电镜内部定位方法。本发明在晶圆表面通过光刻机挡板制作标记,适用于4寸至8寸大尺寸晶圆在扫描电镜内部测量时快速定位,克服了仅使用掩膜版制作标记图形的技术偏见,解决了现有的大尺寸晶圆定位困难的问题,提高了量测效率。
 
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