| 材料试验机 |
| JP63034806 1988-2-17 发明申请 |
| 1989-8-23 |
| 目的 : 以自动设定的希望的测试条件简单地通过操作一个加载命令装置，通过选择之间需要一个从多个半导体存储器的模块对应的各种测试条件以被连接到一个微处理器。结构 : 一种测试仪的一个微处理器1用于控制部根据一程序读取存储测试条件，基本程序用于通过一种材料获得的数据的处理方法和测试数据测试分别和一个存储器3中的一种系统也可单独访问。所述测试条件和数据存储处理的方法在一半导体存储器模块8被加载到所述存储器3在该系统由一个所述测试仪的负载命令装置10和部分被设置根据这些条件执行一种材料测试。所述所述的内容的该存储器3存储在该系统为一半导体存储器模块8被通过一个复制命令执行装置11。所述的半导体存储器模块8被提供在多个和标记以指示一专用存储的程序。 |
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