| 近场光学显微镜系统及其控制方法 |
| KR1020200115838 2020-9-10 发明申请 |
| 2022-3-17 |
| 本发明涉及一种近场光学显微镜系统及其控制方法， 更具体地说，是一种金属探针，其中末端位于分析物附近， 发射光的光源， 光探针，其允许从光源发射的光在金属探针和分析物之间照射； 光谱仪，其通过接收通过与光和分析物相互作用而产生的探针增强信号来产生光谱； 用于光谱中的参考值的探头增强信号提供逐级反馈，以找出被放大到最大的光的波面，并且根据该反馈针对包括有源区的每个片段。 本发明涉及一种接近光学显微镜系统及其控制方法，该系统包括用于控制光的波面的波面控制单元。 |
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