| 颗粒分析仪 |
| KR1020210028770 2021-3-4 修正或者更正专利 |
| 2022-4-15 |
| 本发明涉及一种粒子分析仪，其中，根据本发明的一实施方式的粒子分析仪包括：中空的分散管10，包含粒子的样品1在流动的同时在其中分散，壳体20，以内部与所述分散管10的内部连通的方式结合于所述分散管10，光源30，将入射光IL照射到被分散的所述样品1中，光源20，设置于所述壳体20的内部，并且所述入射光IL接收由所述样品1散射的散射光SL， 基于散射光(SL)生成衍射图案图像的照相机(40)，在框体(20)内配置在入射光IL和散射光(SL)的路径上的透镜(50)，包围透镜(50)的边缘并照射照明光的照明部(60)，接收衍射图案图像并基于接收到的衍射图案图像生成粒径信息的粒径分析器(70)，通过机器学习输出作为衍射图案图像的输入的粒子形状信息的学习模型，生成粒子形状信息的粒子形状分析器(80)， 通过将所述粒径信息与来自由所述粒径分析部70生成的所述粒径信息中的规定的粒径阈值范围进行比较，来判断所述粒径信息是否落入所述粒径阈值范围内的粒径控制部90，在判断为所述粒径信息处于所述粒径阈值范围外的情况下，生成控制粒径标准偏差情况信息、以及生成的所述粒子的大小信息的情况管理器100， 通信模块110，用于将颗粒形状信息和管理粒度标准差状态信息传输至管理者的控制系统。 |
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