微纳米三坐标测量机接触式扫描探头
 
CN201610128438.7  2016-3-7  发明申请

2016-6-22
 
  本发明公开了一种微纳米三坐标测量机接触式扫描探头,其特征是在探头壳体中设置测头单元和测量单元;测头单元是以悬浮片(5a)在底座(6)的内腔中形成悬浮结构,在悬浮片的中心通孔中固定安装带有测球的探针,探针自底座的底部端口中探出,并且能够不受底座的底部端口的干扰而摆动;测量单元是设置在悬浮片的各悬臂上的电容传感器;本发明利用电容传感器的输出信号作为探头的检测信号,能够获得高精度、高灵敏度和小测力的探测效果,同时具有高稳定性和低成本的优势。
 
仿站